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(주)아이에이치 하이테크
 
초고정도 3차원 측정기
UA3P
UA3P-500H
UA3P-650H
UA3P-400T
UA3P-L
 
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Molel UA3P-300 UA3P-4 UA3P-5
주장비 크기(WⅩHⅩD) 700 Ⅹ 780 Ⅹ 1500 (mm) 1000 Ⅹ 1100 Ⅹ 1400 (mm) 1200 Ⅹ1345 Ⅹ 1550 (mm)
측정 범위(X, Y, Z-축) 30 Ⅹ 30 Ⅹ 20 mm 100 Ⅹ100 Ⅹ 350 mm 200 Ⅹ 200 Ⅹ 45 mm
스케일 He-Ne Frequency stabilized Laser(He-Ne주파수 안정화 레이저)
프로브 Atomic force probe
Ruby Tip curvature radius 0.5 ㎜
Diamond : Tip curvature radius 2 ㎛
최대 측정각도 75° 60°
프로브 측정 정도 Ruby stylus
Surface inclined angle
Up to 30°     0.01 ~ 0.05 ㎛
Up to 45°     ~ 0.08 ㎛
Up to 60°     ~ 0.15 ㎛
Up to 70°     ~ 0.15 ㎛
(downward)
Ruby stylus
Surface inclined angle
Up to 30°     0.01 ~ 0.05 ㎛
Up to 45°     ~ 0.1 ㎛
Up to 60°     ~ 0.3 ㎛
Standard diamond stylus
Surface inclined angle
Up to 30° up to 0.1 ㎛ : Actual value(Not guaranteed value)
좌표축 에러 Up to 100 ㎜ : Within 0.05 ㎛(Repeatabilty : Within 0.05 ㎛)
Up to 200 ㎜ : Within 0.1 ㎛(Repeatabilty : Within 0.05 ㎛)
측정 속도 0.005 to 5 ㎜/s
variable in multiple steps
0.01 to 10 ㎜/s
variable in multiple steps
기본 소프트웨어 자동 NC 생성, 자동 얼라인먼트(프로브 R 교정 포함), 데이터 편집, 자동 센터링, 측정 모니터링, 3-D 칼라 그래픽, 리사주 파형 표시 기능
 
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